Školenie MSA a SPC



Školenie MSA (Analýza systémov merania)

Termín: 4-5.11.2021

Miesto: Brno (ČR) alebo Žilina (SVK)

Lektor: Ing. Ľuboš Kiesel

Cena: 320€ bez DPH/os.

 

Pozn.: Miesto konania školenia bude upresnené podľa počtu prihlásených osôb (Brno alebo Žilina).

Prihlásiť sa môžete emailom na office@dqs-slovakia.sk

 

15% zľava pre zákazníkov DQS Slovakia

 

 

Školenie SPC (Statistical Process Control)

Termín: 11-12.11.2021

Miesto: Brno (ČR) alebo Žilina (SVK)

Lektor: Ing. Ľuboš Kiesel

Cena: 320€ bez DPH/os.

 

Pozn.: Miesto konania školenia bude upresnené podľa počtu prihlásených osôb (Brno alebo Žilina).

Prihlásiť sa môžete emailom na office@dqs-slovakia.sk

 

15% zľava pre zákazníkov DQS Slovakia

Obsah školení: Analýza systémů měření – MSA

1. Úvod do problematiky

2. Požadavky na proces měření vyplívající z IATF 16949 a specifických požadavků OEM zákazníků

3. Vhodnost procesu měření dle VDA 5

      a. Pojmy a definice dle VDA 5
      b. Chyby systému měření
      c. Nejistota měření a její vliv na proces rozhodování
      d. Určení standardní nejistoty měření – (metoda A a metoda B)
      e. Určení kombinované nejistoty měření a rozšířené nejistoty měření
      f. Výpočet vhodnosti systému měření
      g. Výpočet vhodnosti procesu měření
      h. Cvičení na výpočet vhodnosti systému a procesu měření
      i. Způsobilost měřícího systému Cg,Cgk
      j. Vhodnost atributivní kontroly (bez znalosti reference a se znalostí              reference)

4. MSA (analýza systému měření) dle AIAG
      a. Pojmy a definice dle AIAG
      b. Chyby systému měření
      c. Výpočet strannosti měření
      d. Výpočet opakovatelnosti a reprodukovatelnosti měření R&R                       (metoda rozpětí, metoda ANOVA)
       e. Výpočet linearity
       f. Výpočet stability systému měření
       g. Zkrácená metoda (metoda založená na rozpětí)
      h. MSA pro atributivní měření (metoda kappa)
      i. Cvičení

5. Porovnání metod dle AIAG a VDA 5
6. Závěrečný test

Obsah školení statistické řízení procesu (SPC) – 2 dny

1. Úvod do SPC

2. Požadavky IATF 16949 a specifických požadavků OEM zákazníků na statistické řízení procesu

3. Histogram

4. Statistické ukazatele

5. Výpočet způsobilosti (způsobilost stroje – nástroje, způsobilost měření, způsobilost procesu)

6. Výpočet výkonnosti procesu

7. Cvičení

8. Zvláštní a náhodné příčiny

9. Statistické regulační diagramy (x-R chart, X-S chart, Median-R, X-MR)

10. Cvičení

11. Jiné druhy regulačních diagramů

12. SPC srovnáním (diagram np,p,c,u)

13. Závěrečný test

Pridaj komentár

Vaša e-mailová adresa nebude zverejnená. Vyžadované polia sú označené *